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Hitachi High-TechnologiesTisch-Elektronenmikroskop TM-3000
Hitachi High-Technologies ist ein führender Anbieter im Bereich Elektronenmikroskope. Hitachi Instrumente vereinen Präzision und Höchstleistung sowie Benutzerfreundlichkeit und absolute Zuverlässigkeit. Das optional erhältliche EDX-Paket unterstützt eine umfassende Elementaranalyse Ihrer Probe von Bor (B) bis Americium (Am). Das TM-3000 Tischelektronenmikroskop ist kompakt und ein Leichtgewicht unter den Rasterelektronenmikroskopen. Dies betrifft aber nur die äußeren Maße. Im Inneren steckt jede Menge hochwertige Technik. Es ist ein Topgerät für alle, die rasch viele Proben routinemäßig durchmustern müssen oder aber auch für all diejenigen, die ohne viel Aufwand eine Probe betrachten wollen. Das TM-3000 mit dem optionalen EDX-Paket ist ein idealer Helfer für die Betrachtung der Elementverteilung der Probe. Dies ist bei REMs dieser Klasse unüblich. Einfaches Wechseln der Elektronenquelle, keine Beschichtung mit Metallschichten bei nichtleitenden Proben und die stickstofffreie Kühlung der Probe bei der EDX mittels Peltierkühlung reduzieren die laufenden Kosten auf nahezu Null. Mit dem Standardprobentisch können nahezu alle Proben bis zu einer maximalen Größe von 70 mm im Durchmesser und 50 mm Höhe betrachtet werden. Zwei unterschiedliche Beschleunigungsspannungen (5 bzw. 15 KV) erhöhen zusätzlich die Flexibilität des Gerätes, z.B. bei der Betrachtung empfindlicherer Proben. Der Charge Up Reduction Modus - hier wird das Vakuum etwas reduziert - dient zur Betrachtung von nichtleitenden zur Aufladung neigenden Proben. Keramiksonden und Isolatormatten können ohne Probenvorbereitung betrachtet werden. Die Probe wird einfach auf den - mit einem leitfähigen Klebepad versehenen – Probenträger befestigt, dieser dann in der Probenkammer befestigt und anschließend wird das Gerät gestartet. Nach nur ca. drei Minuten kann die Bemusterung beginnen. Alternativ kann das TM-3000 mit einem automatisierten Tisch ausgerüstet werden, womit die manuelle Bemusterung der Probe entfällt. Mittels Joystick wird der entsprechende Punkt, der betrachtet werden soll, gesucht. Vor allem bei der Durchmusterung verschiedener Punkte auf einer Probe ist der motorisierte Tisch von großem Nutzen. Sie können bis zu 99 Positionen speichern und diese zum neuerlichen Betrachten, z.B. auch mittels EDX, erneut aufrufen. Kippen, drehen, kühlen und auch Zugtests der Proben - all das ist mit dem TM-3000 und entsprechender Nachrüstung problemlos möglich. Empfindliche biologische Proben, deren Zellstruktur im normalen Modus kollabieren würde, können mittels Kühltisch gefroren und so stabilisiert der Betrachtung zugeführt werden. Der hochsensitive viergeteilte BSE-Detektor ermöglicht auch topografische Betrachtungen durch unterschiedliche Verrechnung der vier Sektoren. So kann z.B. ein topografisches Bild der Oberfläche erzeugt werden. Das energiedispersive X-Ray Spektrometer (EDX) steht in zwei verschieden Versionen zur Verfügung, deren Unterschied hauptsächlich in der Software liegt. Der entsprechend eingebaute Silicon Drift Detector ermöglicht die Identifizierung der Elemente von Bor bis Americium. Die Energieauflösung liegt bei 154 eV (@Cu Kα). Es stehen zur Verarbeitung der Proben drei Modi zur Verfügung:
Der Linescan dient zur Betrachtung der Elementverteilung entlang einer Linie. Hier kann besonders einfach und genau die Verteilung an bestimmten Punkten der Probe im Zusammenhang angesehen werden. Last but not least hilft der Spot Modus rasch und einfach die Zusammensetzung in Prozent, im Bereich eines Punktes, dessen Größe variabel ist, zu bestimmen. Dies ist auch besonders geeignet, um verschiedene gleichförmige Punkte auf ihre Zusammensetzung zu testen. Bei allen drei Arten ist die Elementverteilung automatisiert möglich. An Hand des Spektrums bzw. mit Hilfe des Elementfinders können Ergebnisse genau betrachtet werden und so gegebenenfalls manuell ergänzt bzw. korrigiert werden. In einer Demovorführung können wir gemeinsam erarbeiten, welche Vielfalt an Möglichkeiten das TM-3000 bietet. Vereinbaren Sie einen Termin mit Herrn Josef Gargela, Tel: +1 405 62 35 38 oder per E-Mail: josef.gargela@inula.at. Hier sehen Sie ein paar Beispielbilder (korrodierter Draht):
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Beim Mapping wird eine definierte Oberfläche betrachtet und mit Hilfe der EDX eine Elementverteilung gemacht. Mit Hilfe dieser Darstellung kann z. B. ein Fehler im Material erkannt und dessen Ursache beurteilt werden. Aber auch die Zusammensetzung unterschiedlicher Materialien oder Abfallprodukten, wie z.B. Schlacken kann so gut beurteilt werden. Je nach Ausführung lässt sich mittels Schiebereglern am Bildschirm die Darstellung einzelner Elemente oder aber auch bestimmter Elementgruppen hervorheben.
